1. مبانی مترولوژی
پدیدآورنده : /جی.ام.اس. سیلوا,د سیلوا,De Silva
کتابخانه: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (تهران)
موضوع : ابزار اندازه‌گیری,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر, -- کالیبراسیون, -- مدیریت
رده :
QC
۱۰۰
/
۵
/
د
۵
م
۲۱۳۸۹
2. مبانی مترولوژی: : (ابعا‌د، جرم، فشا‌ر، نیرو، دما، الکتریک، عدم قطعیت اندازه گیری)
پدیدآورنده : د سیلوا، جی. ام. اس De Silva, G. M. S .
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)
موضوع : ابزار اندازه‌گیری -- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر -- مدیریت
رده :
QC
۱۰۰
/
۵
/
د
۵
م
۲ ۱۳۸۸
3. مبانی مترولوژی: (ابعا‌د، جرم، فشا‌ر، نیرو، دما، الکتریک، عدم قطعیت اندازه گیری)
پدیدآورنده : د سیلوا، جی. ام. اس De Silva, G. M. S .
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)
موضوع : ابزار اندازه‌گیری-- کالیبراسیون,استانداردهای ایزو ۹۰۰۰,کیفیت فراگیر-- مدیریت
رده :
QC
100
.
5
.
D4919
